EnglishArabicBulgarianChinese (Traditional)FrenchGermanRussianTurkishPersianGeorgian
Standartlar

Piyezoelektrik ve Dielektrik Elemanlar Test ve Uygunluk Standartları

Piyezoelektrik ve Dielektrik Elemanlarının standartta belirtilen tüm işlemleri gereken metotların tamamı uygulanarak test ederek belgelendirme işlemlerinizi gerçekleştiriyoruz.

 

TS EN 168101 Boş detay özellikleri: Kuartz kristal birimler (yeterlilik kabulü)

TS EN 168201 Boş detay özellikleri: Kuartz kristal birimler (kalite onayı)

TS EN 169201 Boş detay özellikleri: Kuartz kristal kontrollü osilatörler (kalite onayı)

TS EN 60444-1 Kuvartz kristal birimi parametrelerinin bir şebekede sıfır faz tekniği ile ölçülmesi - Bölüm 1

TS EN 60368-2-2 Piezoelektrik süzgeçler - Bölüm 2: Piezoelektrik süzgeçlerinin kullanım kılavuzu - Kısım 2: Piezoelektrik seramik süzgeçler (ıec60368-2-2:1999)

TS EN 170100 Bölüm özelliği standardı- Dalga kılavuz tipli dielektrik rezonatörler

TS EN 170101 Boşluk özelliği- Dalga kılavuz tipli dielektrik rezonatörler- Yetenek onayı

TS EN 60368-4-1 Kalite değerlendirmesi yapılmış piyezoelektrik süzgeçler - Bölüm 4-1: Boş detay özelliği - Yetenek onayı

TS EN 60679-5 Kuvars kristal kontrollü osilatörler-Kalite kontrolü yapılmış-Bölüm 5: Bölüm özelliği-Kalite onayı

TS EN 60679-5-1 Kuvars kristal kontrollü osilatörler-Kalite kontrolü yapılmış-Bölüm 5: Boş detay özelliği-Kalite onayı

TS EN 60368-4 Kalitesi değerlendirmesi yapılmış piyezoelektrik süzgeçler bölüm 4: Bölüm özelliği - Yetenek onayı

TS EN 60368-4-1 Kalitesi değerlendirmesi yapılmış piyezoelektrik süzgeçler - Bölüm 4-1: Boş detay özelliği - Yetenek onayı

TS EN 60444-7 Kuvartz kristal birim parametrelerinin ölçülmesi - Bölüm 7: Kuvartz kristal birimlerinin çalışmasının ve frekans azalmalarının ölçülmesi

TS EN 60444-8 Kuvartz kristal birim parametrelerinin ölçülmesi - Bölüm 8: Yüzeye takılan kuvartz kristal birimleri için deney fikstürü

TS EN 60122-1 Kalite değerlendirmesi yapılmış kuvars kristal birimler - bölüm 1: Genel özellik standardı

TS EN 60444-1/A1 Kuvartz kristal birimi parametrelerinin bir şebekede sıfır faz tekniği ile ölçülmesi - Bölüm 1

TS EN 168201 Kuartz kristal birimler (kalite onayı)-Boş detay özellikleri

TS EN 60444-1/A1 Kuvars kristal birim parametrelerinin bir pi devresinde sıfır faz tekniğiyle ölçülmesi bölüm 1: Bir pi devresinde sıfır faz tekniğiyle kuvars kristal birimlerin rezonans direncinin ve rezonans frekansının ölçülmesi için temel metod

TS EN 60444-9 Kuvartz kristal birim parametrelerinin ölçülmesi - Bölüm 9: Piyezoelektrik kristal birimlerin sahte rezonanslarının ölçülmesi

TS EN 60684-2 Bükülgen yalıtıcı manşon- Bölüm 2: Deney metotları

TS EN 62604-2 Kaitesi değerlendirilmiş yüzey akustik dalga (SAW) ve yığın akustik dalga (BAW) çiftleyicileri

TS EN 60122-3 Kalite değerlendirmesi yapılmış kuvars kristal birimler - bölüm 3 :Standard ana boyutlar ve bacak bağlantıları

TS EN 60368-3 Kalite değerlendirmesi yapılmış piyezoelektrik süzgeçler - Bölüm 3: Standard ana boyutlar ve bacak bağlantıları

TS EN 61837-1 Frekans kontrol ve seçimi için yüzeye kaplanan peielktrik cihazlar - Standard taslaklar ve ön uç bağlantıları - Bölüm 1: Plastik dökümlü kaplama taslakalar

TS EN 62575-2 Radyo frekansı (RF) akustik dalga filtreleri (BAW) kalite değerlendirmesi - Bölüm 2: Kullanım kılavuzu

TS EN 60679-3 Sıvı kristal kontrollü osilatörler - Kalite değerlendirmesi yapılmış - Bölüm 3: Standard ana hatlar ve bacak bağlantıları

TS EN 60444-6 Kuartz kristal birim parametrelerinin ölçümü-Bölüm 6: Sürücü seviye bağımlılığının ölçümü (ssb)

TS EN 61837-2/A1 Frekans kontrolü ve seçme için yüzey monteli piyezoelektrik elemanlar - Standard ana hatlar ve terminal uç bağlantıları - Bölüm 2: Seramik mahfazalar

TS EN 62761 Radyo frekansında (RF) yüzeysel akustik dalga (SAW) ve hacimsel akustik dalga (BAW) elemanlarında doğrusalsızlık ölçme yöntemi için ana esaslar

TS EN 62575-1 Kalitesi değerlendirilmiş radyo frekans (RF) toplu akustik dalga (BAW) filtreleri - Bölüm 1: Genel standard

TS EN 62604-1 Kalitesi değerlendirilmiş yüzeysel akustik dalga (SAW) ve toplu akustik dalga (BAW) dublekser - Bölüm 1: Genel standard

TS EN 60862-1 Niteliği tayin edilmiş yüzey akustik dalga (saw) süzgeçleri: Bölüm 1: Genel özellik standardı

TS EN 61837-3 Frekans kontrolü ve seçimi için yüzeye monteli pizoelektronik cihazlar- Standard çerçeveler ve uç bakır bağlantıları- Kısım 3: Metal kaplayıcılar

TS EN 60758 Sentetik kuvars kristali - Özellikler ve kullanım yönergeleri

TS EN 62276 Yüzey akustik dalga (saw) devre uygulamaları için tek kristalli plakalar - Özellikler ve ölçme metotları

TS EN 61240 Piezoelektrik elemanlar - Frekans kontrolü ve seçimi için yüzey monteli elemanların (SMD) anahat çizimlerinin hazırlanması - Genel kurallar

TS EN 50324-1 Seramik malzemeler ve bileşenlerin piezoelektrik özellikleri-Bölüm 1: Terimler ve tarifler

TS EN 50324-2 Seramik malzemeler ve bileşenlerin piezoelektrik özellikleri-Bölüm 2: Ölçme metotları düşük güç

TS EN 50324-3 Seramik malzemeler ve bileşenlerin piezoelektrik özellikleri-Bölüm 3: Ölçme metotları-Yüksek güç

TS EN 61967-5 Tümleşik devreler - 150 khz - 1 ghz elektromanyetik yayınların ölçülmesi - Bölüm 5: Temaslı yayınların ölçülmesi - Tezgah faraday kafes metodu

TS EN 61967-6 Tümleşik devreler - 150 khz - 1 ghz elektromanyetik yayınların ölçülmesi - Bölüm 6: Temaslı yayınların ölçülmesi - Manyetik prop metodu

TS EN 61967-4/A1 Tümleşik devreler-150 khz ila 1 ghz aralığındaki elektromanyetik yayılımın ölçülmesi-Bölüm 4: İletilen yayılımın ölçülmesi-1 /150 doğrudan çiftlendirme metodu

TS EN 61967-6/A1 Tümleşik devreler - 150 khz - 1 ghz elektromanyetik yayınların ölçülmesi - Bölüm 6: Temaslı yayınların ölçülmesi - Manyetik prop metodu

TS EN 62090 Barkod ve iki boyutlu semboller kullanan elektronik bileşenler için ürün paket etiketleri

TS EN 62132-5 Tümleşik devreler - 150 khz ila 1 ghz frekans aralığı için elektromanyetik bağışıklık ölçümleri - Bölüm 5: Deney masasına ilişkin faraday kafes metodu

TS EN 62132-3 Tümleşik devreler - 150 khz ila 1 ghz frekans aralığı için elektromanyetik bağışıklık ölçümleri - Bölüm 3: Yığın akım enjeksiyon metodu

TS EN 62132-4 Tümleşik devreler - 150 khz ila 1 ghz frekans aralığı için elektromanyetik bağışıklık ölçümleri - Bölüm 4: Doğrudan rf gücünü araya girme metodu

TS EN 62132-2:2011 Tümleşik devreler - Elektromanyetik bağışıklık ölçümleri - Bölüm 2:Işınlanmış bağışıklık ölçümleri- Tem hücresi ve geniş band tem hücre yöntemi

TS EN 62258-5 Yarı iletken kalıplama ürünleri - Bölüm 5: Elektrik benzetimine ilişkin bilgi için kurallar

TS EN 62258-6 Yarı iletken kalıplama ürünleri - Bölüm 6: Isıl benzetimine ilişkin bilgi için kurallar

TS EN 62417 Yarı iletken cihazlar - Metal oksit yarı iletken alan etkili transistörler (mosfet) için mobil iyon deneyleri

TS EN 62433-2 Emu ıc modelleme - Bölüm 2: Emı davranış simülasyonu için tümleşik devre modelleri - İletim yoluyla yayınımların modellemesi (ıcem-Ce)

TS EN 165000-1 Film ve hibrit tümleşik devreler - Bölüm 1: Genel özellikler - yetenek onay işlemi

TS EN 165000-2 Film ve hibrit tümleşik devreler - bölüm 2: İçten gözle muayene ve özel deneyler

TS EN 165000-3 Film ve hibrit tümleşik devreler - Bölüm 3: Film ve hibrit tümleşik devre imalatçıları için öz denetim kontrol listesi ve rapor

TS EN 165000-4 Film ve hibrit tümleşik devreler - Bölüm 4: Müşteri bilgileri, ürün değerlendirme seviye planları ve boş detay özelliği

TS EN 165000-5 Film ve hibrit tümleşik devreler - Bölüm 5: Kalite onay işlemi

TS EN 190000 Genel özellikler: Monolitik entegre devreler

TS EN 190100 Bölüm özellikleri: Sayısal monolitik entegre devreler

TS EN 190101 Aile özellikleri: Sayısal entegre ttl devreler, 54, 64, 74, 84 serileri

TS EN 190102 Aile özellikleri: Ttl schottky sayısal entegre devreler, 54s, 64s, 74s, 84s serileri

TS EN 190103 Aile özellikleri: Sayısal entegre ttl düşük güçlü schottky devreler, 54ls, 64ls, 74ls, 84ls serileri

TS EN 190106 Aile özellikleri: Ttl gelişmiş düşük güçlü schottky sayısal entegre devreler, 54als ve 74als serileri

TS EN 190107 Aile özellikleri: Ttl hızlı sayısal entegre devreler, 54f ve 74f serileri

TS EN 190108 Aile özellikleri: Ttl gelişmiş schottky sayısal entegre devreler, 54as ve 74as serileri

TS EN 190109 Aile özellikleri: Sayısal entegre hc mos devreler, hc/hct/hcu serileri

TS EN 190110 Boş detay özellikleri: Sayısal mikro işlemci entegre devreler

TS EN 190116 Aile özellikleri: Ac mos sayısal entegre devreler